规格参数
| 型号 | MK-AVM500 |
|---|---|
| 测量范围 | X/Y/Z 约 500×400×200 mm(以实物为准) |
| 平台结构 | 花岗岩基座 + 精密直线导轨 |
| 驱动方式 | 三轴伺服电机驱动,光栅尺反馈 |
| 光学系统 | 可选配多倍率镜头及环形/同轴光源 |
| 软件功能 | 程序化自动测量、结果判定、数据导出 |
产品详情
苏州全自动精密测量平台实验台(铭坤科技 MK-AVM500)是一套面向精密制造与科研实验场景的自动化测量系统,集高精度位移平台、光学成像测量与自动分析软件于一体。它适合 3C 电子、半导体、精密五金、光学器件及高校科研实验室等对尺寸精度和测量效率有要求的用户使用。核心卖点在于"自动定位 + 批量测量 + 数据可追溯",帮助客户把测量环节从依赖人工经验转为流程化、可复现的作业方式。
客户常见的测量痛点
在精密测量环节,不少客户都会遇到相似的问题:零件小、特征多,人工用卡尺、千分尺或影像仪逐点测量,效率低且结果受操作者手法影响;批量来料需要全检时,人工测量跟不上产线节拍;测量数据靠纸质记录或手工录入,追溯困难;不同人员、不同设备之间数据口径不一致,导致来料判定与工艺调整缺少可靠依据。这些问题叠加起来,往往表现为"测得慢、测得累、数据说不清"。
MK-AVM500 的解决思路
针对上述痛点,MK-AVM500 采用"电动精密平台 + 光学成像测量 + 软件自动分析"的架构,从三个层面给出应对方案:
- 自动定位替代人工找点:X/Y/Z 三轴电动精密平台按程序路径自动移动,配合光学成像系统采集图像,减少人工反复对位和读数的时间消耗。
- 批量测量替代单件逐点测:可对同批次工件建立测量程序,一键调用后自动完成多特征尺寸采集,适合来料抽检或全检场景。
- 数据留痕替代手工记录:测量结果由软件自动生成并保存,支持导出,便于质量部门做统计分析与追溯。
与常规单件手工测量或纯手动影像测量方案相比,这套平台的优势主要体现在效率和一致性上:测量节拍更稳定,结果受人员差异影响更小,数据管理也更规范。需要说明的是,不同工况下的实际效果与工件特征、程序设置相关,具体以现场实测为准。
产品特点与配置
MK-AVM500 在结构与配置上以稳定性和可操作性为出发点。平台主体采用 granite 花岗岩基座与精密导轨组合,具备较好的刚性和减振性能,为长时间连续测量提供基础;三轴驱动采用伺服电机配合光栅反馈,定位过程平稳;光学系统可选配不同倍率镜头与光源组合,以适应明场、暗场及轮廓测量等不同观察需求。软件方面提供测量程序编辑、自动运行、结果判定与报表导出等功能,界面按常用测量流程组织,便于新用户上手。整机可安装于实验台或产线旁的测量工位,占地与常规影像测量设备相当。
应用场景
该平台适用于以下典型场景:3C 电子行业中连接器、结构件、冲压件的尺寸与位置度测量;半导体及电子元器件封装环节的外观与轮廓尺寸检查;精密五金与钟表零件的批量来料检验;光学镜片、棱镜等器件的几何参数测量;高校与科研院所的材料试样、微结构样件测量与实验数据采集。对于需要频繁切换测量对象、又希望保持数据一致性的实验室和工厂质检部门,这类可编程的全自动测量平台较为适用。
服务与交付
铭坤科技有限公司是一家研发及销售光学机械位移类调整件、光学仪器仪表、光谱能谱类仪器、检测仪器、无损检测仪器的专业性公司,长期服务于各大科研院校、中科院系统及工业工厂,已为航空航天、造船、冶金、铁路和核工业、常规能源、军工兵器、电讯、3C 工厂自动化产线、半导体行业及研究机构等提供检测设备和技术方案。公司坚持新品研发与技术创新,已获得多项发明专利、实用新型专利及软件著作权。针对 MK-AVM500,我们可提供选型沟通、样品试测、测量程序调试与操作培训等配套服务,交付周期与具体配置以合同约定为准。产品支持全国发货,具体参数请咨询确认。
规格参数
- 型号:MK-AVM500
- 测量范围:X/Y/Z 约 500×400×200 mm(以实物为准)
- 平台结构:花岗岩基座 + 精密直线导轨
- 驱动方式:三轴伺服电机驱动,光栅尺反馈
- 光学系统:可选配多倍率镜头及环形/同轴光源
- 软件功能:程序化自动测量、结果判定、数据导出
以上参数供选型参考,具体参数请咨询,以实物为准。
联系方式:铭坤科技 15301802076,地址:苏州。